MoneyDJ新聞 2026-11-03 15:14:43 周佩宇 發佈
汎銓(6830)今(3)日宣布與日商安立知（Anritsu）簽訂全球合作合約，將結合自身的矽光子光損偵測、故障定位與影像映射（Mapping）技術，以及安立知的高速光電訊號量測能力，開發整合量測平台，爭取AI資料中心(AIDC)、CPO及高速光互連相關研發驗證商機。
此次合作以汎銓自主開發的MSS HG矽光子光損偵測設備為核心，除既有可直接偵測光子積體電路（PIC）內部光損位置、進行影像定位與Mapping等功能，未來可依客戶需求，擴充光電特性、高速訊號與傳輸品質等量測功能，朝整合「光損定位、光電參數量測、高速訊號驗證」的一站式矽光子研發平台發展。
安立知的光電量測設備可針對光調變器、雷射、光接收器及光收發模組等元件，分析電轉光、光轉電特性，旗下模組化高速位元錯誤率測試儀（BERT）平台，則可支援NRZ、PAM4及高速訊號完整性分析。與汎銓設備整合後，將可從確認元件光電特性、高速傳輸表現，進一步追查晶片內部實際光損位置，縮短PIC設計驗證、故障分析與除錯所需時間。
汎銓指出，隨AI運算晶片逐步導入CPO及更高速光互連架構，PIC從研發、工程驗證到未來量產測試，對自動化、多通道、高速訊號與光損定位的需求將持續增加。後續將與國際設備廠合作，擴充MSS HG量測與分析功能，補足既有光電量測設備在晶片內部光損定位上的分析需求。
(附圖為汎銓董事長柳紀綸)
