MoneyDJ新聞 2026-04-07 09:30:21 周佩宇 發佈
汎銓(6830)投入矽光子測試設備領域，並於2026電子生產製造設備展展出自主開發的MSS HG測試平台，顯示其從既有檢測服務延伸至設備布局的策略。
隨著共同封裝光學（CPO）等應用發展，矽光子技術正由元件開發階段逐步走向系統整合與驗證，相關測試需求也從傳統量產測試，延伸至研發與工程驗證等更高彈性場景。
汎銓此次推出的MSS HG平台，整合測試主機與探針載台（Prober），並結合光學量測與影像分析技術，主要鎖定研發與失效分析等應用，而非以高產出為導向的量產測試。公司表示，此類測試需求具有條件多變、實驗設計複雜等特性，與傳統標準化測試設備存在差異。
從應用面來看，該平台目前聚焦三大方向，包括光學失效定位、研發測試支援，以及未來導入客戶內部設備的可能性。其中，在失效分析方面，矽光子元件於材料解析前，需先進行光損或漏光位置判定，相關測試精度將影響後續分析效率。
此外，在研發測試階段，由於元件設計、材料與測試條件持續調整，測試設備需具備較高彈性。汎銓指出，這類少量多樣的測試需求，與傳統半導體量產測試設備的設計邏輯不同，也形成設備市場的新切入機會。
在技術層面，汎銓表示，其平台結合既有光損偵測相關專利技術，可支援1310nm與1550nm等常見通訊波段，並透過紅外光學影像進行異常光損與散射定位。
汎銓過去以檢測分析服務為主要業務，此次布局測試設備，被視為其營運模式的延伸。若設備能順利導入客戶端，將有助於公司由單一服務提供者，轉向兼具設備與服務的解決方案供應商。
