MoneyDJ新聞 2016-06-21 16:24:38 記者 新聞中心 報導
蔚華科(3055)今(21)日宣佈，南茂(8150)在評估多種測試解決方案後，決定選用其大中華區獨家代理的Xcerra Test Cell整合測試解決方案做為上海廠MEMS產品量產的測試平台。蔚華科指出，在竹科、南科及上海皆有廠房的南茂是半導體封裝測試領域龍頭之一，因應未來IC設計廠及IDM在行動裝置、車用電子及物聯網的龐大MEMS量產測試及校準需求，南茂已在上海廠做足準備，蓄勢待發。
蔚華科表示，Xcerra MEMS Test Cell整合極具成本效益的LTX-Credence Diamondx測試機及高產出率的Multitest InMEMS/InCarrier解決方案，南茂選用此一測試解決方案的關鍵，在於它結合Diamondx的高並測能力、Multitest先進封裝分類能力及多種MEMS測試模組，高度整合的解決方案已在南茂的產線驗證，可有效縮短量產的時間，目前的測試平台可在條狀的3DOF磁力計與載盤(Carrier)上的3DOF/2DOF加速器之間進行切換。
蔚華科指出，透過Xcerra MEMS Test Cell平台，南茂及其客戶可以完全感受到Xcerra在測試平台整合上的專業，包括測試機與分類機之間的通訊、測試介面設計及MEMS模組整合，測試平台的高產出率使測試成本大幅降低；此外，它仍保有高度彈性，可讓南茂重新配置測試平台，可做為其他應用或感應器測試。
南茂董事長鄭世杰表示，作為半導體封裝測試服務品牌，公司不斷努力讓設備更升級，才能提供客戶最佳的測試品質、產出率及最好的價格，由蔚華科代理的Xcerra MEMS Test Cell讓公司在6DOF加速器與磁力計測試都達到目標，由於Xcerra MEMS Test Cell的高度彈性，公司同時可有效能地擴張MEMS測試產能，隨時可進行壓力、氣壓或濕度等感應器或是MEMS麥克風的測試，在條狀或載盤上測試的選項，則讓公司能更確實地處理晶圓級封裝產品。
Xcerra TCI部門資深總監Andreas Nagy進一步表示，公司理解OSAT需要更大的彈性，針對新的客戶應用及產量需求能快速進行調整，Xcerra Test Cell因應此一需求，提供全新解決方案，結合系統級測試解決方案優點及可快速設定重新配置的超高彈性。
