MoneyDJ新聞 2015-10-01 10:50:26 記者 新聞中心 報導
Xcerra表示，公司已成功在亞洲完成第一套3/6DOF慣性與導航MEMS感測器測試方案(Test cell)的安裝。其大中華區獨家代理商蔚華科(3055)指出，隨物聯網時代來臨，MEMS感測器測試需求更加明顯，Xcerra結合旗下半導體測試品牌LTX-Credence與Multitest，提供感測器裝置高並行測試的完整解決方案，為客戶提供更專業服務，客戶採用此一解決方案，應用整合測試程式及優化支援，即可立刻感受其優異的測試效能與產出量。
蔚華科表示，MEMS感測器測試方案結合成本優勢、高產量測試及可靈活擴展的基礎設備；係採DPIN96 數位腳位的Diamondx測試機，結合Mutlitest InStrip分類機及可交換式InFlipM MEMS測試模組、測試介面選擇、高密度Mercury測試座，可支援在條帶上同時進行204顆 3DOF磁力計的快速測試與校準；此外，更採用Multitest InCarrier的WLCSP測試解決方案則可支援2/3DOF加速器在216個測試座上進行尺寸1.2x1.7 mm的產品平行測試，僅需半小時就可以完成置換不同的測試介面、分類機轉換套件與測試程式，進行不同的測試應用。
Xcerra創新測試方案資深產品經理Peter Cockburn進一步指出，此計劃是受到亞洲的無晶圓廠客戶推動而生，客戶在尋找可以為他們的行動MEMS感測器進行高並行測試的封裝測試業者，更可同時支援他們的高產量需求又能兼顧成本效益。Xcerra表示，採用Xcerra Test Cell測試方案，無晶圓廠客戶便能有效地將測試作業外包；同時，封裝測試廠也可以充份利用Xcerra Test Cell測試方案的產品彈性，做為未來其他半導體測試應用。
