MoneyDJ新聞 2026-11-05 15:49:58 王怡茹 發佈
光電子晶片檢測設備廠光焱科技(7728)公布10月合併營收5150萬元，年增71.33%，創歷年同期新高，並連續兩個月站穩5000萬元大關；累計前10月營收3.72億元，年增44.63%。展望後市，公司積極搶攻矽光子晶圓級檢測商機，旗下NightJar已進入客戶工程驗證及樣品測試階段，而高量產版本NightJar-H亦持續推進驗證，預計第四季底進度將更為明朗，為後續營運增添成長動能。
光焱近年積極布局矽光子晶圓級檢測市場，總經理暨技術長廖華賢於11月3日至4日赴荷蘭參加歐洲光子積體電路高峰會(PIC Summit Europe 2026)，並於5日SWTest Asia 2026國際晶圓測試研討會分享相關技術，聚焦旗下NightJar如何從失效分析延伸至晶圓級篩選，進一步切入矽光子量產檢測市場。
光焱指出，隨AI資料中心、高速光通訊及共同封裝光學(CPO)發展，矽光子晶片若進入後段封裝後才發現缺陷，將增加製造成本。傳統插入損耗(IL)量測雖可掌握整體光損數值，卻難以直接定位異常位置；NightJar則透過高光譜成像技術，將光損轉化為具備空間位置、波長及功率資訊的影像，協助客戶辨識波導、耦合結構等局部異常，並可同時應用於光學失效分析(OFA)及電性失效分析(EFA)。
廖華賢表示，NightJar具備「定位、定量、定值」三大技術優勢，以64顆晶粒檢測為例，傳統方式約需123分鐘，NightJar僅需121秒，速度提升約60倍，且整片晶圓逐顆比對結果具高度一致性，有助於提升檢測效率。
在應用方面，NightJar將進一步朝晶圓允收測試(WAT)等前段檢測環節切入，透過蒐集大量晶粒光學特徵，建立整片晶圓的光損分布圖，並與既有測試結果交叉比對，協助客戶進行晶粒風險分級，判斷哪些晶粒可進入後續製程、哪些需進一步複檢或提前淘汰，以降低不必要的測試及封裝成本。
此外，光焱亦提出晶圓「光學指紋」概念，透過NightJar累積大量光學量測數據，結合晶圓映射建立可追溯的光學特徵資料，供晶圓廠及IC設計業者進行製程關聯分析，進一步協助良率改善。公司認為，隨矽光子逐步朝量產發展，相關檢測需求將從過去的事後失效分析，延伸至前段篩選及智慧製造應用。
產品進度方面，NightJar目前已用於客戶工程驗證及樣品測試，並完成與量產線自動探針台的系統整合；針對高通量需求開發的NightJar-H則持續推進高量產(HVM)驗證，階段性進度預計第四季底明朗。光焱看好，隨矽光子檢測由研發分析逐步延伸至量產環節，將有助於擴大NightJar應用範圍，帶動後續業務成長。
