精實新聞 2012-11-29 15:59:20 記者 羅毓嘉 報導
測試設備大廠愛德萬測試(Advantest, NYSE: ATE)看準CMOS晶片應用面越發廣泛、對具備高速高可靠度的測試解決方案需求孔急，已在T2000測試平台上開發出全新的CMOS感測元件高速測試模組。愛德萬測試指出，該平台可支援CMOS晶片的大規模並行同測，從第一顆製成晶片到量產，有效降低客戶的CMOS影像感測元件測試成本。
現今市場上附相機功能的消費性電子產品比比皆是，從智慧型手機、平板電腦，到數位攝影機、汽車夜視系統等，行動攝影模組的發展可謂方興未艾。愛德萬指出，這些產品所產生的影像像素尺寸和解析度不斷向上攀升，在此同時，相機的核心CMOS影像感測元件也因為加入AD/DA等功能與其他SoC電路設計，變得更加複雜。
愛德萬測試表示，影像感測元件發展過程中的種種因素，促使測試設備不但要能測試日益複雜的電路設計，還必須提高影像處理速度和資料傳輸率，才能維持高測試產能，降低測試成本。
對此，愛德萬測試最新推出、專屬於CMOS感測元件測試的「3GICAP模組」可與T2000測試平台完全相容，提供業界速度最快的影像擷取能力，同時能以極具成本效益的做法，並測64 D-PHY與M-PHY介面晶片，進而滿足客戶對於影像感測元件日益增長的測試需求。
愛德萬測試說明，一部T2000平台可同時容納16個 3GICAP測試模組，這讓單一平台可同時並測64個裝置，大幅提高施測效率。愛德萬強調，此模組能以原速進行生產測試，幫助提高良率，縮短第一顆晶片設計的測試驗證時間，讓半導體製造廠得以在IC設計中加入客製化電路系統，更完全無損於並行測試、彈性效能或測試成本效益。
