精實新聞 2012-11-30 18:32:57 記者 羅毓嘉 報導
整合系統功能的單晶片(SoC)發展方興未艾，產業需求正盛，對於IC測試的要求也越來越高規格。對此測試設備大廠愛德萬測試(Advantest, NYSE: ATE)在既有的T2000平台上，推出一款升級的8GDM測試模組，愛德萬表示，該測試平台可滿足SoC裝置各式介面的高速測試需求，進一步縮短產品測試時間、簡化除錯並加速上市時程。
愛德萬指出，系統單晶片裝置有各式介面高速測試需求，包括序列式、並行式及記憶介面(如PCI-Express與雙倍資料傳輸率DDR連接)等，而最新推出的T2000平台8GDM模組可完整覆蓋SoC的各種測試需求。
愛德萬測試SoC測試事業體執行長暨執行副總裁Toshiyuki Okayasu指出，全新的T2000 8GDM的功率密度更高，其支援多重時域高速介面的複雜SoC裝置測試，並具備專為系統層次的功能性測試所設計的FTA功能，可望讓愛德萬測試在快速成長的SoC測試設備市場中擴大市佔率。
根據愛德萬測試的說明，8GDM模組涵蓋在T2000增強型性能解決方案 (EPP) 中，具功能性測試抽象化功能，將進一步縮短測試週期、並簡化除錯程序，加速客戶產品的上市時間。
愛德萬測試將於2012年12月5-7日間，在日本千葉縣幕張國際展覽中心舉辦的SEMICON Japan國際半導體展上展出T2000平台與8GDM模組。
