精實新聞 2013-10-15 12:29:33 記者 羅毓嘉 報導
隨著智慧型手機等行動裝置百花齊放，MEMS元件已成智慧裝置感測外界環境的關鍵元件，不過企業投入開發MEMS產品時，故有的分析技術難以找出MEMS真正失效原因，電子檢驗服務商宜特(3289)宣布公司已建構出重力加速計(G-Sensor)的標準失效分析流程，該流程已被許多開發G-sensor的公司採用，據悉約有9成業者均在宜特協助之下解決MEMS的失效問題。
宜特指出，在設計與生產過程中，MEMS的失效問題仍沒有標準化的分析流程可供參考，許多公司在試圖檢查、分析MEMS元件的失效狀況時，由於對其結構的認知度、掌握度不夠，因此以傳統方式做開蓋(De-cap)觀察，容易造成元件汙染；同時元件的懸浮結構更因在外力移除時產生毀損，兩造影響下造成元件汙染和應力破壞，不但沒有找出真因，反而製造更多失效盲點。
為克服此一問題，宜特今年已成功開發出MEMS無污染的De-cap技術，結合無應力的元件移除技術，以非破壞方式保留結構原貌，避開機械應力和汙染產生的非真因失效。
宜特指出，該技術平台目前已幫助超過30家從事MEMS設計、製造與封裝的企業，對症下藥地找出失效點並成功改善重力加速計的失效問題。
宜特營運長林正德指出，宜特早在2007年預見此市場需求後即投入研發，全面佈局MEMS等新興產品失效分析技術，這幾年在大量實務經驗深耕下，更於今年建立出MEMS標準失效分析流程，該流程並已通過電子元件檢測失效分析技術研討會ISTFA的認可，成為全台第一家擁有MEMS研究團隊的實驗室。
宜特長期與台系IC設計公司配合，提供中小型IC設計公司委外檢測服務，隨著IC設計架構往先進製程遷移、手機等電子產品亦不斷推陳出新，以滿足快速演進的行動通訊裝置市場需求，委外檢驗、檢測與故障分析的需求亦不斷放大，成為宜特營運的最主要支撐。
今年前3季，宜特累計營收為11.92億元，年增5.2%；累計今年上半年，宜特稅後盈餘為3570萬元，年增11%，EPS為0.78元。
